PAL75-J Пружний тестовий контакт: 3 A, 50 mΩ. Плоска/кругла головка
28,75 ₴
Мінімальна сума замовлення на сайті — 500 ₴
- В наявності
- Код: 00-00080881
+380 (97) 037-75-90
або пишіть на і-мейл або чат
- +380 (73) 156-87-00или пишите на мэйл и чат
- +380 (50) 547-59-69Днем замовлення вважається той день
PAL75-J Пружний тестовий контакт: 3 A, 50 mΩ. Плоска/кругла головка
28,75 ₴
В наявностіУ компанії підключені електронні платежі. Тепер ви можете купити будь-який товар не покидаючи сайту.
повернення товару протягом 14 днів за рахунок покупця
Опис
Характеристики
Інформація для замовлення
PAL75-J Щупи для вимірювальних приладів
Пружний тестовий контакт: 3 A, 50 mΩ. Плоска/кругла головка
| Користувальницькі характеристики | |
|---|---|
| Артикул | 00-00080881 |
| Діаметр корпусу | приблизно ~1,02 мм |
| Діаметр наконечника | приблизно ~0,74 мм |
| Довжина | приблизно ~33,35 мм _x000D_ всього виробу |
| Контактне _x000D_ опір | 50 mΩ |
| Матеріал | корпус і плунжер _x000D_ з металу з золотим покриттям (часто латунь і берилієва мідь) |
| Призначення | тимчасове _x000D_ електричне з'єднання під час тестування друкованих плат (PCB) і модулів |
| Робочий струм | 3 A |
| Робочий хід (stroke) | 2,5 мм |
| Стан | Нове |
| Тип | підпружинений _x000D_ тестовий контакт (pogo pin spring probe) |
| Форма наконечника | плоска/кругла _x000D_ головка |
- Ціна: 28,75 ₴
