PAL75-J Подпружиненный тестовый контакт: 3 A, 50 mΩ. Плоская / круглая головка
28,75 ₴
Минимальная сумма заказа на сайте — 400 ₴
- В наличии
- Код: 00-00080881
+380 (97) 037-75-90
или пишите на мэйл и чат
- +380 (73) 156-87-00или пишите на мэйл и чат
- +380 (50) 547-59-69
PAL75-J Подпружиненный тестовый контакт: 3 A, 50 mΩ. Плоская / круглая головка
28,75 ₴
В наличииУ компании подключены электронные платежи. Теперь вы можете купить любой товар не покидая сайта.
возврат товара в течение 14 дней за счет покупателя
Описание
Характеристики
Информация для заказа
PAL75-J Щупы для измерительных приборов
Подпружиненный тестовый контакт: 3 A, 50 mΩ. Плоская / круглая головка
| Пользовательские характеристики | |
|---|---|
| Артикул | 00-00080881 |
| Диаметр корпуса | примерно ~1,02 мм |
| Диаметр наконечника | около ~0,74 мм |
| Длина | около ~33,35 мм _x000D_ всего изделия |
| Контактное _x000D_ сопротивление | 50 mΩ |
| Материал | корпус и плунжер _x000D_ из металла с золотым покрытием (часто латунь и бериллиевая медь) |
| Назначение | временное _x000D_ электрическое соединение при тестировании печатных плат (PCB) и модулей |
| Рабочий ток | 3 A |
| Рабочий ход (stroke) | 2,5 мм |
| Состояние | Новое |
| Тип | подпружиненный _x000D_ тестовый контакт (pogo pin spring probe) |
| Форма наконечника | плоская / круглая _x000D_ головка |
- Цена: 28,75 ₴
